Быстро развивающаяся технология ПП и печатных узлов и быстро изменяющиеся производственные условия вызывают новые требования к стратегии тестирования. Серьезные изменения в спектре дефектов, новые технологии тестирования и подъем системного программирования при внутрисхемном контроле ставят серьезные задачи перед традиционной платформой тестирования.

sitemap

Разработка: студия Green Art